XRD-XRF集成分析儀(AL-Y3500xrdf型)

AL-Y3500xrdf型儀器是一種結合X射線(xiàn)衍射技術(shù)（XRD）和X射線(xiàn)光譜技術(shù)（EDS）的高端分析儀器，主要用于材料的元素成分分析和結構表征。通過(guò)一次測量，可同步獲取材料的元素組成、晶體結構、物相組成、晶粒尺寸等關(guān)鍵信息，廣泛應用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)、半導體、催化劑表征、金屬都城分析、納米技術(shù)等領(lǐng)域。

●高效集成：一次測量可同時(shí)獲得衍射與光譜數據，避免傳統分步測量的耗時(shí)與誤差。

●高靈敏度與精度：采用先進(jìn)探測器與算法，檢測限低至ppm級，結構解析精度達原子級別。

●多功能拓展：各種功能附件滿(mǎn)足不同測試目的需要支持多種樣品形態(tài)（粉末、塊狀、薄膜等），適配高溫、低溫、高壓等特殊環(huán)境測試高穩定性的X射線(xiàn)發(fā)生器控制系統，得到更穩定的重復測量精度。

●硬件集成：共享X射線(xiàn)源、樣品臺及控制系統，保證兩種技術(shù)的光路同步與信號匹配。

●數據融合：通過(guò)專(zhuān)用軟件對衍射圖譜與光譜數據進(jìn)行聯(lián)合解析，結合X射線(xiàn)衍射（XRD）的晶體結構信息與X射線(xiàn)熒光光譜（XRF）的元素組成數據，實(shí)現物質(zhì)的全維度表征。

●未知樣品中一種和多種物相鑒定，可以同時(shí)分析40種元素。

●采用多準直器、索拉狹縫系統，具有自主知識產(chǎn)權專(zhuān)利技術(shù)。

●晶體結構解析(Rietveld結構分析)、軟件內包含基本參數發(fā)，經(jīng)驗系數法等。

●非常規條件下晶體結構變化(高溫、低溫條件下)，可以搭載多種樣品臺。

●薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度。

●微區樣品的分析、金屬材料織構、應力分析。